熒光光譜儀技術規格說明書光譜分析儀

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產品時間2025-04-23

所屬分類熒光光譜儀

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產品描述：熒光光譜儀技術規格說明書是由湖北高天提供，改設備能量色散X熒光光譜儀，簡稱XRF，是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢，在子、器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。

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產品概述

熒光光譜儀技術規格說明書是由湖北高天提供，改設備能量色散X熒光光譜儀，簡稱XRF，是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢，在子、器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。

GT-XRF-W7 熒光光譜儀技術規格說明書
	儀器測試范圍：	從硫S-鈾U之間的元素（包含RoHS和重金屬元素） RoHS限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br + 鹵素Cl和Br 合金：銅材，鐵合金，鎳合金，錫合金，鈦合金，貴金屬鍍層：Ag/Sn/Au/Ni—Cu，Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe
2.	樣品種類：	固體、液體、粉末；
3.	?????低檢出限：	RoHS：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm 、Pb≤5ppm、Cl≤60ppm 成分分析：0.01%--99.99%
4.	測試時間：	60s-200s(軟件自動調整)
5.	工作環境溫度：	溫度 :15-30℃ ；濕度：≤75% （不結露）
6.	輸入源：	AC 220V±15%，50Hz
7.	高壓保護措施	過壓自保護，自恢復
8.	儀器尺寸：	650mm450mm350mm
9.	測試樣品腔尺寸：	280mm280mm200mm
10.	輻射防護標準：	遠高于國標GB18871-2002 GBZ115-2002標準

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